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貼片電容为什么要进行老化处理

來源:貼片電容 發布時間:2017-07-31 浏覽:1786

关于貼片電容老化说明

       貼片电容器容量老化说明:貼片电容器的容量随时间以对数规律降低(之称之为老化)。然而,如果貼片電容器发热温度高于其介质的居里点时,此时产生“去老化”现象,即通过老化发生的容量降低重新恢复,当电容器恢复冷却时,老化又随时间产生。

       貼片電容器去老化條件:将貼片電容器放在上限类别温度或按详细规范中可能规定的更高温度(150℃)下经1h 后,接着在试验的标准大气条件下恢复24±1h。

根據各類材質隨時間衰減系數見以下曲線圖:

 

貼片電容测试条件:

項目

Item

技術規格

Technical Specification

測試方法

Test Method Remarks

容量

Capacitance

Ⅰ類 Class

(COG/NPO)

應符合指定的誤差級別

Should be within the specified toleance

標稱容量

Capacitance

測試頻率

Measuring Frequency

測試電壓

Measuring Voltage

1000PF

1MHz±10%

1.0V±0.2V

>1000PF

1KHz±10%

1.0V±0.2V

Ⅱ類 Class

應符合指定的誤差級別

Should be within the specified toleance

C10uF     測試頻率:1KHz±10%      1.0V±0.2V

Test Frequency: 1KHz±10% Test Voltage: 1.0V±0.2V

C>10uF      

X7R X5R Y5V 測試頻率:120Hz±24Hz     0.5V±0.05V

Test Frequency: 120Hz±24Hz Test Voltage: 0.5V±0.05V

測試溫濕度:25±5 50%-70%

 

此文關鍵詞:貼片電容|貼片電容老化|貼片電容老化測試方法